Prof. Dr. MUSTAFA ALEVLİ


Fen Fakültesi, Fizik Bölümü

Katıhal Fiziği Anabilim Dalı


WoS Araştırma Alanları: Temel Bilimler (Sci), Malzeme Bilimi Çokdisiplinli, Fizik, Fizik Multidisipliner, Fizik Uygulamalı, Optik, Nanobilim Ve Nanoteknoloji, Malzeme Bilimi Karakterizasyon Ve Test, Malzeme Bilimi Kaplamalar Ve Filmler


Avesis Araştırma Alanları: Baskı Devreler, İnce Film, Kalın Film ve Hibrid Tümleşik Devreler, Dönüştürücüler ve Algılama Aygıtları, Nanoteknoloji, Optik ve Fotonik, Aydınlatma Teknolojisi, Yenilenebilir Enerji, Dielektrik Malzeme ve Aygıtlar, Optik Malzeme ve Aygıtlar, Optoelektronik Malzeme ve Aygıtlar, Yarı İletken Malzeme ve Aygıtlar, Güneş Enerjisi, Fizik, Atomik Özellikler ve Fotonla Etkileşmeler, Moleküler Özellikler ve Fotonla Etkileşmeler, Disiplinlerarası Fizik ve İlgili Bilim ve Teknoloji Alanları, Optik, Yoğun Madde 1:Yapısal, Mekanik ve Termal Özellikler

Metrikler

Yayın

56

Yayın (WoS)

39

Yayın (Scopus)

45

Atıf (WoS)

780

H-İndeks (WoS)

15

Atıf (Scopus)

860

H-İndeks (Scopus)

16

H-İndeks (Scholar)

19

Proje

3

Tez Danışmanlığı

3

Açık Erişim

3
BM Sürdürülebilir Kalkınma Amaçları

Eğitim Bilgileri

2004 - 2008

2004 - 2008

Doktora

Georgia State University, Physics & Astronomy, Amerika Birleşik Devletleri

2001 - 2004

2001 - 2004

Yüksek Lisans

Georgia State University, Physics&Astronomy, Amerika Birleşik Devletleri

1998 - 2001

1998 - 2001

Yüksek Lisans

Marmara Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik (Yl) (Tezli), Türkiye

1994 - 1998

1994 - 1998

Lisans

Marmara Üniversitesi, Fen - Edebiyat Fakültesi, Fizik Bölümü, Türkiye

Yaptığı Tezler

2005

2005

Doktora

Growth and characterization of indium nitride layers grown by high-pressure chemical vapor deposition

Georgia State University, Physics & Astronomy

2001

2001

Yüksek Lisans

Titanyum atomunun toplam ve kısmi fotoiyonlaşma tesir kesiti hesapları

Marmara Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik (Yl) (Tezli)

2001

2001

Yüksek Lisans

Cut off wavelength dependence on doping concentration for highly doped p-type GaAs detector structures

Georgia State University, Physics&Astronomy

Araştırma Alanları

Baskı Devreler, İnce Film, Kalın Film ve Hibrid Tümleşik Devreler

Dönüştürücüler ve Algılama Aygıtları

Nanoteknoloji

Optik ve Fotonik

Aydınlatma Teknolojisi

Yenilenebilir Enerji

Dielektrik Malzeme ve Aygıtlar

Optik Malzeme ve Aygıtlar

Optoelektronik Malzeme ve Aygıtlar

Yarı İletken Malzeme ve Aygıtlar

Güneş Enerjisi

Fizik

Atomik Özellikler ve Fotonla Etkileşmeler

Moleküler Özellikler ve Fotonla Etkileşmeler

Disiplinlerarası Fizik ve İlgili Bilim ve Teknoloji Alanları

Optik

Yoğun Madde 1:Yapısal, Mekanik ve Termal Özellikler

Akademik Ünvanlar / Görevler

2019 - Devam Ediyor

2019 - Devam Ediyor

Prof. Dr.

Marmara Üniversitesi, Fen - Edebiyat Fakültesi, Fizik Bölümü

2013 - 2019

2013 - 2019

Doç. Dr.

Marmara Üniversitesi, Fen - Edebiyat Fakültesi

2011 - 2013

2011 - 2013

Yrd. Doç. Dr.

Marmara Üniversitesi, Fen - Edebiyat Fakültesi, Fizik Bölümü

2010 - 2011

2010 - 2011

Uzman

İhsan Doğramacı Bilkent Üniversitesi, Ulusal Nanoteknoloji Uygulama Ve Araştırma Merkezi

2010 - 2010

2010 - 2010

Öğretim Görevlisi Dr.

University of Nevada, Las Vegas, Harry Reid Center For Enviromental Studies

2008 - 2010

2008 - 2010

Öğretim Görevlisi

Georgia State University, College Of Arts And Sciences, Physics And Astronomy

2001 - 2008

2001 - 2008

Araştırma Görevlisi

Georgia State University, College Of Arts & Sciences, Physics & Astronomy

1998 - 2001

1998 - 2001

Araştırma Görevlisi

Marmara Üniversitesi, Fen - Edebiyat Fakültesi, Fizik Bölümü

Yönetimsel Görevler

2011 - Devam Ediyor

2011 - Devam Ediyor

Erasmus Programı Kurum Koordinatörü

Marmara Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik (Yl) (Tezli) (İngilizce)

Makaleler

Tümü (37)
SCI-E, SSCI, AHCI (37)
SCI-E, SSCI, AHCI, ESCI (37)
Scopus (37)

Hakemli Bilimsel Toplantılarda Yayımlanmış Bildiriler

2018

2018

1. Critical Layer Thickness of GaN Thin Films on sapphire grown by hollow-cathode plasma assisted tomic layer deposition

ALEVLİ M., Gungor N.

European Materials Research Society Spring 2018, Fransa, 18 - 22 Haziran 2018, (Özet Bildiri)

2016

2016

7. Infrared dielectric functions phonon modes and band gap properties of plasma assisted ALD grown InxGa1 xN films

ALEVLİ M., Gungor N., Haider A., Kızır S., BIYIKLI N.

The 16th International Conference on Atomic Layer Deposition, Dublin, İrlanda, 24 - 27 Temmuz 2016

2016

2016

8. Effect of Substrate Temperature and Ga source Precursor on Growth and Material Properties of GaN Grown by Hollow Cathode Plasma Assisted Atomic Layer Deposition

Haider A., Kizir S., Deminskyi P., Tsymbalenko O., Leghari S. A., BIYIKLI N., et al.

36th IEEE International Conference on Electronics and Nanotechnology (ELNANO), Kyiv, Ukrayna, 19 - 21 Nisan 2016, ss.132-134, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2015

2015

9. Comparison Studies of GaN Grown with Trimethylgallium and Triethylgallium for Optoelectronic Applications

ALEVLİ M., Heider A., Gungör N., Kizir S., Sabri A., OKYAY A. K., et al.

American vacuum Society 62 nd İnternational Meeting, San-Jose, Kostarika, 18 - 23 Ekim 2015, (Özet Bildiri)

2015

2015

11. Substrate Temperature Influence on the Properties of GaN Thin Films Grown by Hollow cathode Plasma assisted Atomic Layer Deposition

ALEVLİ M., Güngör N., Ozgit Akgun C., Kızır S., Haider A., Leghari S., et al.

American Vacuum Society 15th Conference on Atomic Layer deposition, Portland, Amerika Birleşik Devletleri, 28 - 01 Haziran 2015, ss.370

2015

2015

13. Enhanced Light Scattering with Energy Downshifting Using 16 nm Indium Nitride Nanoparticles for Improved Thin film a Si N i P Solar Cells

Chowdhury F. I., İslam K., Alkis S., ORTAÇ B., ALEVLİ M., Dietz N., et al.

227th Electro Chemical Society meeting, Chicago, Amerika Birleşik Devletleri, 24 - 28 Mayıs 2015, cilt.66, ss.9-16, (Tam Metin Bildiri) identifier

2014

2014

14. Effect of reactor pressure on optical and electrical properties of InN films grown by high-pressure chemical vapor deposition

Alevli M., Gungor N., Alkis S., Ozgit-Akgun C., Donmez I., Okyay A. K., et al.

5th International Symposium on Growth of III-Nitrides (ISGN), Georgia, Amerika Birleşik Devletleri, 18 - 22 Mayıs 2014, cilt.12, ss.423-429, (Tam Metin Bildiri) identifier identifier

2009

2009

15. Growth temperature - Phase stability relation in In1-xGa xN epilayers grown by high-pressure CVD

Durkaya G., Alevli M., Buegler M., Atalay R., Gamage S., Kaiser M., et al.

2009 MRS Fall Meeting, Boston, MA, Amerika Birleşik Devletleri, 30 Kasım - 04 Aralık 2009, cilt.1202, ss.277-282, (Tam Metin Bildiri) identifier

2009

2009

16. Optical and structural properties of InN grown by HPCVD

Buegler M., Alevli M., Atalay R., Durkaya G., Senevirathna I., Jamil M., et al.

9th International Conference on Solid State Lighting, San Diego, CA, Amerika Birleşik Devletleri, 3 - 05 Ağustos 2009, cilt.7422, (Tam Metin Bildiri) identifier

2006

2006

17. Properties of InN layers grown by high pressure CVD

Alevli M., Durkaya G., Kirste R., Weesekara A., Perera U., Fenwick W., et al.

2006 MRS Fall Meeting, Boston, MA, Amerika Birleşik Devletleri, 27 Kasım - 01 Aralık 2006, cilt.955, ss.291-296, (Tam Metin Bildiri) identifier

2005

2005

18. Properties of InN grown by high-pressure CVD

Alevli M., Durkaya G., Woods V., Haboeck U., Kang H., Senawiratne J., et al.

2005 Materials Research Society Fall Meeting, Boston, MA, Amerika Birleşik Devletleri, 28 Kasım - 02 Aralık 2005, cilt.892, ss.77-82, (Tam Metin Bildiri) identifier

2005

2005

19. The growth of InN and related alloys by high-pressure CVD

Dietz N., Alevli M., Kang H., Straßburg M., Woods V., Ferguson I. T., et al.

Operational Characteristics and Crystal Growth of Nonlinear Optical Materials II, San Diego, CA, Amerika Birleşik Devletleri, 31 Temmuz - 01 Ağustos 2005, cilt.5912, ss.1-8, (Tam Metin Bildiri) identifier

Desteklenen Projeler

2014 - 2015

2014 - 2015

Atomik Katman Büyütme Yöntemi Ile Kaplanan GaN Galyum Nitrat Ince Filmlerinin Optik Karakterizasyonu

TÜBİTAK Projesi , 3001 - Başlangıç Ar-Ge Projeleri Destekleme Programı

Alevli M. (Yürütücü)


Atıflar

Toplam Atıf Sayısı (WOS): 718

h-indeksi (WOS): 15