Outlook to the Future of Reliability


Driel W. v., Pressel K., SOYTÜRK M., Knoll H., Hille P.

Recent Advances in Microelectronics Reliability, Driel Willem van, Editör, Springer Nature, ss.385-399, 2024

  • Yayın Türü: Kitapta Bölüm / Mesleki Kitap
  • Basım Tarihi: 2024
  • Yayınevi: Springer Nature
  • Sayfa Sayıları: ss.385-399
  • Editörler: Driel Willem van, Editör
  • Marmara Üniversitesi Adresli: Evet