Outlook to the Future of Reliability

---

Driel W. v., Pressel K., SOYTÜRK M., Knoll H., Hille P.

Recent Advances in Microelectronics Reliability, Driel Willem van, Editör, Springer Nature, ss.385-399, 2024

• Yayın Türü: Kitapta Bölüm / Mesleki Kitap
• Basım Tarihi: 2024
• Yayınevi: Springer Nature
• Sayfa Sayıları: ss.385-399
• Editörler: Driel Willem van, Editör
• Marmara Üniversitesi Adresli: Evet