Characterization of Au capped Si Nanowhiskers by XRD SEM and Semiconducting Analysis


ŞEKER İ., YANIK S. , KARAKIZ M.

International Semiconductor Science and Technology Conference, Aydın, Türkiye, 11 - 13 Mayıs 2015

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Aydın
  • Basıldığı Ülke: Türkiye