Influence of SnO2 Film Thickness on Electronic and Dielectric Behavior of Au/SnO2/p-Si Structures

Coşkun M., Dumludağ F., Altındal A.

(ISSTC 2014) International Semiconductor Science and Technology Conference, İstanbul, Türkiye, 13 Ocak 2014 - 15 Ocak 2015, ss.15

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: İstanbul
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.15
  • Marmara Üniversitesi Adresli: Evet