INT8-Quantized YOLOv8m for PCB Defect Detection on AMD Kria KV260: Accuracy and Deployment Performance Evaluation

Budak İ., Bal S., Korkmaz H.

Applied Sciences (Switzerland), cilt.16, sa.21, ss.1-20, 2026 (SCI-Expanded, Scopus)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 16 Sayı: 21
  • Basım Tarihi: 2026
  • Doi Numarası: 10.3390/app162110965
  • Dergi Adı: Applied Sciences (Switzerland)
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Scopus, Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
  • Sayfa Sayıları: ss.1-20
  • Marmara Üniversitesi Adresli: Evet