Nobel Yayın Dağıtım, Ankara, 2019
Modern Fizik Takviyeli MALZEME
KARAKTERİZASYONU ve TEMEL İLKELERİ başlıklı bu çalışmanın, ülkemizde bu konuda
mevcut bir literatür eksikliğini gidermesi amaçlanmıştır. Eserde, optik
mikroskop teknikleri, ışığın polarizasyonu, X-ışınları ve elektron difraksiyonu,
malzeme kristal yapısının belirlenmesi, x-ışınları kantitatif analiz
yöntemleri, faz diyagramı uygulamaları, elektron davranışları, elektron
mikroskopisi (SEM,TEM,EDS,WDS,EBSD) ve spektroskopisi, termal analiz süreçleri,
Atomik Kuvvet Mikroskopisi, Fluoresan Mikroskopisi, FTIR, Dinamik transmisyon
Mikroskopisi, In Situ nano sertlik basma ve çekme deneyleri bir bütün olarak
ele alınmış ve fizik problemleriyle desteklenmiştir. Sınav, ödev soruları ve cevapları da
öğrencilere uygulama olması açısından ilave edilmiştir. Okuyucu, ayrıca EK ler kısmında ana metin ile
ilgili daha karmaşık matematik çözümleri, ekstra tabloları, konularla ilgili
örnekleri, buluşlara imza atmış tanınmış
bilim insanlarının biyografilerini ve bilim tarihi ile ilgili makaleleri
bulacaktır.