The Effect of the Gate Dielectric Layer Thickness on OFET Characteristics

Taşkın Gazioğlu D., Dumludağ F., Yerli Y.

(APMAS 2013) 3rd International Advances in Applied Physics & Materials Science Congress, Antalya, Türkiye, 24 - 28 Nisan 2013, ss.692

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Antalya
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.692
  • Marmara Üniversitesi Adresli: Evet