Probe test card with flexible interconnect structure

Tunaboylu B.

Patent, BÖLÜM H Elektrik, Buluşun Başvuru Numarası: 12/353879 , Standart Tescil, 2010, Başvuru Yapıldı

• Fikri Mülkiyet: Patent
• Başvuru Yapılan Ülke/Kuruluş: Amerika Birleşik Devletleri
• Buluşun Durumu: Başvuru Yapıldı
• Başvuru Tarihi: 15.06.2010